阿贝比长仪6W

阿贝比长仪6W的具体信息：

一、用途

用于精确测量直线距离的仪器，称为比长仪。在天文工作中，用来测量底片上谱线之间的距离。比长仪的测量范围为200mm，测量精度可达1.5微米。基于阿贝原理设计制造的高精度长度光学仪器，主要用于测量二线之间的距离及平面上二点之间的距离，并可作为摄谱仪的成套附件。

仪器分为三部分:①精密导轨。② 置片台为可沿导轨移动的钢板，一侧装有透明毫米尺，另一侧装有待测底片。③两个固定连接的显微镜:一个用来对准光谱线(或物体)，称为对准显微镜；另一种用于在毫米尺度上对齐划线和读数，称为读数显微镜。移动置片台，当将显微镜从一条谱线对准到另一条谱线时，由读数显微镜对准的毫米级二次读数之间的差异是谱线之间的距离。

根据阿贝提出的原理，只要待测物体和毫米刻度准确位于同一高度，置片台的滑动误差不会影响测量精度。为了消除对准误差，可以将底片旋转180°并再次测量。熟练的测量人员使用这种仪器测量不对称的谱线，精度往往高于自动测量仪器。用比长仪测量底片上待测谱线和对比谱线的位置，根据经验公式计算待测谱线的波长。

二、技术规格

测量范围：200mm

标尺分度值：1mm

读数显微镜分度值：0.001mm

对线显微镜工作距离：50mm