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数字式立式光学计JDG-S2

数字式立式光学计JDG-S2

产品详情

数字式立式光学计的具体信息:

一、用途

这是我厂新研制的改型产品,大量程、高精度高稳定性的光学仪器。

本仪器是一种通过测量块或标准零件与试件的比较来测量物体整体尺寸的仪器。主要用于精密测量五等精度量块,一级精度柱型规及各种圆柱形、球形、线状物体的直径或厚度等,并对被测零件进行微小位移测量。它也可以用来控制精密零件的加工。该仪器的头部还可以作为一个独立的机构,在科研、生产过程控制和在线测量中测量被测零件的微位移,测量薄膜、纸张等非金属的厚度。

二、技术参数

被测件较大长度:200mm

直接测量范围:≥10 mm

较小显示值:0.0001 mm

测量力:(2±0.2)N

大不准确度:比较测量时:±0.00025 mm;直接测量时:0.0005mm

大测量误差:±(0.5+L/100)μm,L是被测长度,以mm

仪器体积:250X150X440mm

仪器重量:18kg

标准配件:可调带筋园台、可调园平台、带筋固定方台

平面测帽Ф2、平面测帽Ф8、小球面测帽、刃形测帽


询盘

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