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数显立式光学计 JDG-S2

数显立式光学计 JDG-S2

产品详情

数显立式光学计JDG-S2的具体信息:

一、用途

这是我厂新研制的改型产品,大量程、高精度高稳定性的计量仪器。

本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块,一级精度柱型规及各种圆柱形,球形,线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量,对被测件作微小位移测量。亦可用来控制精密零件的加工。

 二、技术参数

被测件大长度     200mm

直接测量范围     ≥10 mm

小显示值            0.0001 mm

测量力               (2±0.2) N

大不准确度        比较测量时:±0.00025 mm

                         直接测量时:0.0005mm

大测量误差        ±(0.5+L/100) μm  L是被测长度,以mm

仪器体积            250X150X440mm

仪器重量            18kg

标准配件            可调带筋园台、可调园平台、带筋固定方台

                         平面测帽 Ф2 、平面测帽 Ф 8、小球面测帽、刃形测帽

询盘

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